Арт: S530
S530
параметрическая тест-система для высокоскоростного производственного контроля полупроводниковых плас…
Цена по запросу
— уточняйте
Арт: S530-HV
S530-HV
версия S530 с тестированием до 1100 В на любом выводе для силовых и широкозонных приборов.
Цена по запросу
— уточняйте
Арт: S540
S540
48-выводная автоматизированная система для тестирования силовых SiC/GaN структур до 3 кВ.
Цена по запросу
— уточняйте
Арт: 707B
707B
шестислотовая матрица коммутации для полупроводникового тестирования до 576 точек коммутации.
Цена по запросу
— уточняйте
Арт: 708B
708B
компактная одна слотовая матрица коммутации на 96 точек для полупроводникового тестирования.
Цена по запросу
— уточняйте